Последний уровень раздела предыдущего изложения   Текущий уровень изложения предыдущего раздела   Текущий уровень изложения следующего раздела   Первый уровень изложения следующего раздела   Уровень: Глоссарии:


Фотоэлектрические способы юстировки и контроля осветительной системы



Фотоэлектрические способы контроля и юстировки осветительной системы применимы как для систем в видимой области так и особенно для систем, работающих в инфракрасной области, так как способы, применяемые для систем видимой области, не всегда приемлимы в инфракрасной области. Фотоэлектрический прибор для контроля фокусировки основан на использовании нулевого контраста изображения в главной плоскости вспомогательного объектива. Оптико-электронная схема прибора представлена на рис.3.56.

Рис.3.56

Ф-Э прибор состоит из короткофокусного объектива 1, двухпольных приемников 2, включенных по мостовой схеме 4, и стрелочного индикатора 7. Объектив 1 помещается в отверстие диафрагмы 3 (рис.3.55) так, чтобы его главная плоскость Н была в плоскости диафрагмы 3. В этом случае возникает нулевой контраст изображения нити лампы 6 , и сигналы составного двухпольного приемника будут одинаковы, если плоскость изображения нити лампы 6 будет совпадать с плоскостью диафрагмы. При этом стрелка индикатора 7 будет находиться на "0" шкалы.

В случае контроля систем, работающих в инфракрасной области спектра, используется инфракрасный источник излучения 6, либо передним устанавливается инфракрасный светофильтр.

Составной двухпольный приемник может быть использован также для контроля равномерности освещенности в плоскости препарата 5 (рис.3.55). Для этого составной приемник, подключенный к мостовой схеме, перемещается в плоскости препарата 5 (рис.3.55).

Юстировка осветительной системы в инфракрасной области, также как и в видимой области, достигается перемещением источника 6.