Предыдущий уровень изложения текущего раздела   Текущий уровень изложения предыдущего раздела   Текущий уровень изложения следующего раздела   Первый уровень изложения следующего раздела   Уровень:


Методы повышения точности при измерениях

Структурные и параметрические методы повышения точности измерительных приборов

В параметрических методах улучшение характеристик достигается за счет применения более высококачественных (и соответственно дорогих) элементов и узлов без принципиального изменения структуры и алгоритма работы измерительного прибора.

Структурные методы обеспечивают улучшение технических характеристик оборудования за счет совокупности дополнительных аппаратных и программных средств и приемов, изменяющих саму структуру прибора и алгоритма измерения. Структурные методы оказываются зачастую дешевыми, чем параметрические за счет того, что не требуют применения прецизионных узлов.

Среди структурных методов в настоящее время наиболее распространены методы цифровой автоматической коррекции результатов измерения с использованием микропроцессорв, заключающиеся в том, что цифровым способом вычисляется поправка к результатам измерений, которая затем вычитается (прибавляется к результатам).

В зависимости от способа вычисления поправки структурные методы подразделяют на метод вспомогательных измерений и метод образцовых мер.